|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 51 van 132 gevonden artikelen
| Titel: |
Film thickness measurement and defect inspection using optical coherence tomography |
| Auteur: |
Qin, Yuwei Zhao, Hong Zhang, Lu Wang, Liwei |
| Verschenen in: |
Optik |
| Paginering: | Jaargang 124 (2013) nr. 22 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 51 van 132 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |