|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 77 gevonden artikelen
| Titel: |
Frequency dependence of cyclotron resonance in Si inversion layers |
| Auteur: |
Kennedy, T. A. Wagner, R. J. McCombe, B. D. Tsui, D. C. |
| Verschenen in: |
Critical reviews in solid state and materials sciences |
| Paginering: | Jaargang 5 (1975) nr. 3 pagina's 391-395 |
| Jaar: |
1975-10-01 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Taylor & Francis |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 77 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |