|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 90 van 110 gevonden artikelen
| Titel: |
TEM damage studies and electrical profile measurements of Si+ implanted GaAs |
| Auteur: |
Stewart, C.P. Blunt, R.T. Booker, G.R. Sanders, I.R. |
| Verschenen in: |
Physica. B+C, Low temperature and solid state physics + Atomic, molecular and plasma physics optics |
| Paginering: | Jaargang 116 (1983) nr. 1-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1983 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 90 van 110 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |