|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 101 gevonden artikelen
| Titel: |
Caracterisation et comparaison par spectroscopie Auger et diffraction d'electrons lents de surfaces de silicium monocristallin, amorphe et hydrogene |
| Auteur: |
Allie, G. Lauroz, C. Chenevas-Paule, A. |
| Verschenen in: |
Applications of surface science |
| Paginering: | Jaargang 4 (1980) nr. 2 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
1980 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 101 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |