|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 73 van 157 gevonden artikelen
| Titel: |
Ion-implantation damage and annealing effects in (InGa)As GaAs strained-layer semiconductor systems |
| Auteur: |
Myers, D.R. Dawson, L.R. Biefeld, R.M. Arnold, G.W. Hills, C.R. Doyle, B.L. |
| Verschenen in: |
Superlattices and microstructures |
| Paginering: | Jaargang 4 (1988) nr. 4-5 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1988 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 73 van 157 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |