|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 156 van 157 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray studies of interfacial roughness in ZnSe GaAs heterostructures |
| Auteur: |
Krol, A. Sher, C.J. Woronick, S.C. Kao, Y.H. Dalby, R.J. Cammack, D.A. Bhargava, R.N. |
| Verschenen in: |
Superlattices and microstructures |
| Paginering: | Jaargang 4 (1988) nr. 4-5 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1988 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 156 van 157 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |