|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 116 van 157 gevonden artikelen
| Titel: |
Scanning electron and laser beams induced current (SELBIC) method for observing failures in GaAs high electron mobility transistors |
| Auteur: |
Sueyoshi, Haruki Takasu, Shin-ichi Choi, Woon Tomokage, Hajime |
| Verschenen in: |
Superlattices and microstructures |
| Paginering: | Jaargang 45 (2009) nr. 4-5 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 116 van 157 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |