Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 48 gevonden artikelen
 
 
  Electric potential mapping by thickness variation: A new method for model-free mobility determination in organic semiconductor thin films
 
 
Titel: Electric potential mapping by thickness variation: A new method for model-free mobility determination in organic semiconductor thin films
Auteur: Widmer, Johannes
Fischer, Janine
Tress, Wolfgang
Leo, Karl
Riede, Moritz
Verschenen in: Organic electronics
Paginering: Jaargang 14 (2013) nr. 12 pagina's 12 p.
Jaar: 2013
Inhoud:
Uitgever: The Authors
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 48 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland