|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 56 van 60 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness dependent structural and optical properties of In/Te bilayer thin films |
| Auteur: |
Matheswaran, P. Gokul, B. Abhirami, K.M. Sathyamoorthy, R. |
| Verschenen in: |
Materials science in semiconductor processing |
| Paginering: | Jaargang 15 (2012) nr. 5 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 56 van 60 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |