|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Localizing and analyzing defects in AlGaN/GaN HEMT using photon emission spectral signatures |
| Auteur: |
Moultif, Niemat Divay, Alexis Joubert, Eric Latry, Olivier |
| Verschenen in: |
Engineering failure analysis |
| Paginering: | Jaargang 81 (2017) nr. C pagina's 69-78 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |