|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Atom Probe Field-Ion Microscopy Characterization of Nickel and Titanium Aluminides |
| Auteur: |
Larson, D.J Miller, M.K |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 44 (2000) nr. 1-2 pagina's 18 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |