|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 58 gevonden artikelen
| Titel: |
Development of accurate dose evaluation technique of X-ray inspection for quality assurance of semiconductor with Monte Carlo simulation |
| Auteur: |
Park, Hyojun Choi, Hyun Joon Rhew, Keunho Lim, Heonsang Lee, Hyunyoung Jang, Iloh Min, Chul Hee |
| Verschenen in: |
Applied radiation and isotopes |
| Paginering: | Jaargang 154 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 58 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |