|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 61 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of Ti and V doped CdTe by time dependent charge measurement (TDCM) and photoinduced current transient spectroscopy (PICTS) |
| Auteur: |
Eiche, C. Joerger, W. Fiederle, M. Ebling, D. Schwarz, R. Benz, K.W. |
| Verschenen in: |
Optical materials |
| Paginering: | Jaargang 4 (1995) nr. 2-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 61 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |