|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 63 van 82 gevonden artikelen
| Titel: |
Semi-structured Interview Measure of Stigma (SIMS) in psychosis: Assessment of psychometric properties |
| Auteur: |
Wood, Lisa Burke, Eilish Byrne, Rory Enache, Gabriela Morrison, Anthony P. |
| Verschenen in: |
Schizophrenia research |
| Paginering: | Jaargang 176 (2016) nr. 2-3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 63 van 82 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |