|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| Titel: |
Dimensional metrology interoperability and standardization in manufacturing systems |
| Auteur: |
Zhao, Yaoyao Xu, Xun Kramer, Tom Proctor, Fred Horst, John |
| Verschenen in: |
Computer standards & interfaces |
| Paginering: | Jaargang 33 (2011) nr. 6 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 7 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |