|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization and patterning of novel high-TCR Ta–Si–N thin films for sensor application |
| Auteur: |
Chung, C.K. Chang, Y.L. Wu, J.C. Jhu, J.J. Chen, T.S. |
| Verschenen in: |
Sensors and Actuators. A, Physical |
| Paginering: | Jaargang 156 (2009) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |