Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
 
 
  AFM studies of polypyrrole film surface morphology II. Roughness characterization by the fractal dimension analysis
 
 
Titel: AFM studies of polypyrrole film surface morphology II. Roughness characterization by the fractal dimension analysis
Auteur: Silk, Toomas
Hong, Qi
Tamm, Jüri
Compton, Richard G.
Verschenen in: Synthetic metals
Paginering: Jaargang 93 (1998) nr. 1 pagina's 7 p.
Jaar: 1998
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 10 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland