|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 231 van 289 gevonden artikelen
| Titel: |
Selective I/O scan: A diagnosable design technique for VLSI systems |
| Auteur: |
Chau, K.K. Kime, C.R. |
| Verschenen in: |
Computers & mathematics with applications |
| Paginering: | Jaargang 13 (1987) nr. 5-6 pagina's 18 p. |
| Jaar: |
1987 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 231 van 289 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |