|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 647 van 3528 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the source of two extra components in Si 2p photoelectron spectra of the SiO2/Si(1 0 0 ) interface |
| Auteur: |
Dreiner, S. Schürmann, M. Krause, M. Berges, U. Westphal, C. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 144-147 (2005) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 647 van 3528 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |