|
3D Auger quantitative depth profiling of individual nanoscaled III–V heterostructures |
|
|
|
Titel: |
3D Auger quantitative depth profiling of individual nanoscaled III–V heterostructures |
Auteur: |
Hourani, W. Gorbenko, V. Barnes, J.-P. Guedj, C. Cipro, R. Moeyaert, J. David, S. Bassani, F. Baron, T. Martinez, E. |
Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
Paginering: |
Jaargang 213 (2016) nr. C pagina's 10 p. |
Jaar: |
2016 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|