|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Instrument-related geometrical factors affecting the intensity in XPS and ARXPS experiments |
| Auteur: |
Herrera-Gomez, A. Aguirre-Tostado, F.S. Mani-Gonzalez, P.G. Vazquez-Lepe, M. Sanchez-Martinez, A. Ceballos-Sanchez, O. Wallace, R.M. Conti, G. Uritsky, Y. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 184 (2011) nr. 8-10 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |