|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 272 van 272 gevonden artikelen
| Titel: |
Zur bestimmung der reduzierten dicke D/λ dünner Schichten mittels XPS |
| Auteur: |
Ebel, Maria F. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 14 (1978) nr. 4 pagina's 36 p. |
| Jaar: |
1978 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 272 van 272 gevonden artikelen
| << vorige |