|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 52 van 778 gevonden artikelen
| Titel: |
Angle-resolved X-Ray photoelectron spectroscopy for the characterization of GaAs(OO1) surfaces |
| Auteur: |
Alnot, P. Olivier, J. Wyczisk, F. Fadley, C.S. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 43 (1987) nr. 3 pagina's 24 p. |
| Jaar: |
1987 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 52 van 778 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |