|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 162 van 778 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterisation of the VG ESCALAB instrumental broadening functions by XPS measurements at the Fermi edge of silver |
| Auteur: |
Mähl, S. Neumann, M. Dieckhoff, S. Schlett, V. Baalmann, A. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 85 (1997) nr. 3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 162 van 778 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |