|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 291 van 660 gevonden artikelen
| Titel: |
Implication of X-ray photoelectron intensities for a layer model of GaAs surface |
| Auteur: |
Demanet, C.M. Lowther, J.E. Marais, M.A. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 35 (1985) nr. 2 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1985 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 291 van 660 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |