|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 213 van 377 gevonden artikelen
| Titel: |
Near edge X-ray absorption fine structure spectroscopy of chemically modified porous silicon |
| Auteur: |
Hu, Y.F. Boukherroub, R. Sham, T.K. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 135 (2004) nr. 2-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 213 van 377 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |