|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Regularization methods for the extraction of depth profiles from simulated ARXPS data derived from overlayer/substrate models |
| Auteur: |
Paynter, R.W. |
| Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
| Paginering: | Jaargang 184 (2012) nr. 11-12 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |