|
Expanding the view into complex material systems: From micro-ARPES to nanoscale HAXPES |
|
|
|
Titel: |
Expanding the view into complex material systems: From micro-ARPES to nanoscale HAXPES |
Auteur: |
Schneider, C.M. Wiemann, C. Patt, M. Feyer, V. Plucinski, L. Krug, I.P. Escher, M. Weber, N. Merkel, M. Renault, O. Barrett, N. |
Verschenen in: |
Journal of electron spectroscopy and related phenomena |
Paginering: |
Jaargang 185 (2012) nr. 10 pagina's 10 p. |
Jaar: |
2012 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|