|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Manufacturing intelligence for reducing false alarm of defect classification by integrating similarity matching approach in CMOS image sensor manufacturing |
| Auteur: |
Chen, Ying-Jen Fan, Chu-Yuan Chang, Kuo-Hao |
| Verschenen in: |
Computers & industrial engineering |
| Paginering: | Jaargang 99 (2016) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |