|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Differential Thickness Layer Resistance Measurement method for measurements of contact resistance of organic semiconductor thin films |
| Auteur: |
Náhlík, Josef Heřmanová, Martina Boháček, Jan Fitl, Přemysl Vrňata, Martin |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 74 (2015) nr. C pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |