|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Precision measurement and nondestructive testing by means of digital phase shifting speckle pattern and speckle pattern shearing interferometry |
| Auteur: |
Yang, L.X. Steinchen, W. Schuth, M. Kupfer, G. |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 16 (1995) nr. 3 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |