|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 77 van 95 gevonden artikelen
| Titel: |
Reducing the latency between machining and measurement using FEA to predict thermal transient effects on CMM measurement |
| Auteur: |
Mian, Naeem S. Fletcher, S. Longstaff, AP. |
| Verschenen in: |
Measurement |
| Paginering: | Jaargang 135 (2019) nr. C pagina's 260-277 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Authors |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 77 van 95 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |