|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 113 van 119 gevonden artikelen
| Titel: |
Thin film depth profiling using simultaneous particle backscattering and nuclear resonance profiling |
| Auteur: |
Barradas, N.P. Mateus, R. Fonseca, M. Reis, M.A. Lorenz, K. Vickridge, I. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 268 (2010) nr. 11-12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 113 van 119 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |