|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 59 gevonden artikelen
| Titel: |
Spectroscopic ellipsometry study of Si nanocrystals embedded in a SiO x matrix: Modeling and optical characterization |
| Auteur: |
Ilday, Serim Nogay, Gizem Turan, Rasit |
| Verschenen in: |
Applied surface science |
| Paginering: | Jaargang 318 (2014) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 59 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |