|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 66 van 129 gevonden artikelen
| Titel: |
Influence of multi-hit capability on quantitative measurement of NiPtSi thin film with laser-assisted atom probe tomography |
| Auteur: |
Kinno, T. Akutsu, H. Tomita, M. Kawanaka, S. Sonehara, T. Hokazono, A. Renaud, L. Martin, I. Benbalagh, R. Sallé, B. Takeno, S. |
| Verschenen in: |
Applied surface science |
| Paginering: | Jaargang 259 (2012) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 66 van 129 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |