|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Emerging oxide degradation mechanisms: Stress induced leakage current (SILC) and quasi-breakdown (QB) |
| Auteur: |
Ghibaudo, G. Riess, P. Bruyère, S. DeSalvo, B. Jahan, C. Scarpa, A. Pananakakis, G. Vincent, E. |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 49 (1999) nr. 1-2 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |