|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 187 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of copper grain growth limitations inside narrow wires depending of overburden thickness |
| Auteur: |
Dubreuil, O. Cordeau, M. Mourier, Th. Chausse, P. Mellier, M. Bellet, D. Torres, J. |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 85 (2008) nr. 10 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 187 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |