|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 123 van 187 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanotwin formation and its physical properties and effect on reliability of copper interconnects |
| Auteur: |
Xu, Di Sriram, Vinay Ozolins, Vidvuds Yang, Jenn-Ming Tu, K.N. Stafford, Gery R. Beauchamp, Carlos Zienert, Inka Geisler, Holm Hofmann, Petra Zschech, Ehrenfried |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 85 (2008) nr. 10 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 123 van 187 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |