|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Interface characterization of (In,Ga)As/AlGaAs layers grown by metalorganic chemical vapor deposition |
| Auteur: |
Kim, J. Alwan, J.J. Coleman, J.J. Wayman, C.M. |
| Verschenen in: |
Materials letters |
| Paginering: | Jaargang 11 (1991) nr. 5-7 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1991 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |