|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
The effect of sample imperfections in wavelength-scanning polarization-modulation ellipsometry |
| Auteur: |
Bermudez, Victor M. |
| Verschenen in: |
Optics communications |
| Paginering: | Jaargang 23 (1977) nr. 3 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1977 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |