|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
Automated inspection of micro-defect recognition system for color filter |
| Auteur: |
Jeffrey Kuo, Chung-Feng Peng, Kai-Ching Wu, Han-Cheng Wang, Ching-Chin |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 70 (2015) nr. C pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |