|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 40 gevonden artikelen
| Titel: |
Surface roughness characterization of Al-doped zinc oxide thin films using rapid optical measurement |
| Auteur: |
Kuo, Chil-Chyuan |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 49 (2011) nr. 7 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 40 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |