|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Pixel-based absolute surface metrology by three flat test with shifted and rotated maps |
| Auteur: |
Zhai, Dede Chen, Shanyong Xue, Shuai Yin, Ziqiang |
| Verschenen in: |
Optics and lasers in engineering |
| Paginering: | Jaargang 102 (2018) nr. C pagina's 92-99 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |