|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Dynamic reliability management based on resource-based EM modeling for multi-core microprocessors |
| Auteur: |
Kim, Taeyoung Liu, Zao Tan, Sheldon X.-D. |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 74 (2018) nr. C pagina's 106-115 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |