|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Thickness dependence of the structural and electrical properties of copper films deposited by dc magnetron sputtering technique |
| Auteur: |
Chan, Kah-Yoong Tou, Teck-Yong Teo, Bee-San |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 37 (2006) nr. 7 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |