|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Thermal mapping and 3D numerical simulation of new cellular power MOS affected by electro-thermal instability |
| Auteur: |
Breglio, G Rinaldi, N Spirito, P |
| Verschenen in: |
Microelectronics journal |
| Paginering: | Jaargang 31 (2000) nr. 9-10 pagina's 741-746 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 16 gevonden artikelen
| << vorige |