|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 25 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Recent progress in scanning electron microscopy for the characterization of fine structural details of nano materials |
| Auteur: |
Suga, Mitsuo Asahina, Shunsuke Sakuda, Yusuke Kazumori, Hiroyoshi Nishiyama, Hidetoshi Nokuo, Takeshi Alfredsson, Viveka Kjellman, Tomas Stevens, Sam M. Cho, Hae Sung Cho, Minhyung Han, Lu Che, Shunai Anderson, Michael W. Schüth, Ferdi Deng, Hexiang Yaghi, Omar M. Liu, Zheng Jeong, Hu Young Stein, Andreas Sakamoto, Kazuyuki Ryoo, Ryong Terasaki, Osamu |
| Verschenen in: |
Progress in solid state chemistry |
| Paginering: | Jaargang 42 (2014) nr. 1-2 pagina's 21 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 25 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |