|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
A guided Bayesian inference approach for detection of multiple flaws in structures using the extended finite element method |
| Auteur: |
Yan, Gang Sun, Hao Waisman, Haim |
| Verschenen in: |
Computers and structures |
| Paginering: | Jaargang 152 (2015) nr. C pagina's 18 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |