|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Understanding rare safety and reliability events using forward-flux sampling |
| Auteur: |
Sudarshan, Vikram Seider, Warren D. Patel, Amish J. Arbogast, Jeffery E. |
| Verschenen in: |
Computers and chemical engineering |
| Paginering: | Jaargang 153 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 43 gevonden artikelen
| << vorige |