|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling and detecting approach for the change point of electronic product infant failure rate |
| Auteur: |
He, Yihai Zhao, Yixiao Wei, Yi Zhang, Anqi Zhou, Di |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 99 (2019) nr. C pagina's 222-231 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |